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| 尊敬的工程师，您好： NI公司将于2009年07月22日在石家庄举办下一代工业测控系统——更高精度，更快控制免费技术研讨会。我们衷心希望此次研讨 会对解决您工作和研究中的困难有所帮助和启发。 |
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当前，工业控制领域的竞争越发激烈，对于工业控制器的要求也越来越高。您可能需要把更高精度的测量和更高速度的控制集成到已有的系统中去。 本研讨会将为您带来高性能的测控解决方案。开放的软件平台不仅提供了多种高级算法加速开发流程，也可以方便地集成您已有的硬件产品降低系统升级成本。坚固可靠的硬件平台集成了当前最先进的FPGA技术，可以满足您对于高性能的测试和控制的需求。 此外，NI的工业平台中还可以轻松集成机器视觉与运动控制系统，满足您个性化的系统应用需求。 |
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| ·控制工程师，自动化工程师，机械工程师及工业控制领域系统开发人员。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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1.工业自动化应用发展要求 2.NI PAC满足您对于工业控制系统性能提升的要求 ·高精度测量·高性能分析 ·集成FPGA的高级控制平台·与现有平台方便的集成 3.NI机器视觉与运动控制解决方案 4.用户案例分析 5.提问与答疑 |
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· LabVIEW，LabVIEW DSC，NI OPC Server · CompactRIO，NI机器视觉平台，NI运动控制平台，Touch Panel · CompactRIO Scan Mode演示 |
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| 钢铁冶金，轨道控制，汽车工业等行业对于高性能测量与控制的应用。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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ni.com/china/pac ni.com/china/industrial |
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| 首选报名方式：拨打免费咨询电话800 8203622或（021）50509800与NI上海市场部联系，您的报名将在第 一时间被受理，同时可就技术问题与NI工程师直接交流。 在线报名：请点击下方“立刻报名参加”按钮，即刻在线填写报名。 |
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