美国国家仪器有限公司
  改变工程师命运
—图形化的测试测量与控制系统设计
  威海   5月17日周四
 
尊敬的工程师,您的NI客户号为
NI诚邀您报名参加“改变工程师命运——图形化的测试测量与控制系统设计”免费技术研讨会。

--时间:5月17日,周四,14:00 p.m.—17:00 p.m.
--地点:威海中心大酒店瑞海厅
              (威海市环翠区新威路58号)

研讨会简介
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科研人员提供了面向测试测量与控制的完整平台。
革新式的图形化系统设计,以及软硬件的无缝连接等特点可以显著减少系统构建时间和构建成本,与此同时这些特点还为测控应用带来了无与伦比的灵活性。
本场研讨会,NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术,帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。在研讨会中还将穿插各种精彩的应用演示,帮助您更好地理解NI各类软硬件产品的强大功能!
 
您将通过本次研讨会了解到
· 自动化测试测量领域发展的趋势
20多年测试测量领域的发展历史
细数当今主流的测试测量发展趋势
如何实现测试应用的成功
· 控制与测试相结合
控制设计的考虑因素
如何实现高效的控制应用
*注:根据地区不同,研讨会内容将略有调整。
点击了解活动详情
若报名按钮无法正常显示,
点击此处报名
涉及的产品/应用/演示包括:
LabVIEW软件
PXI/PXI Express平台CompactRIO平台
数据采集(DAQ)产品家族
模块化仪器 Singleboard RIO
更多信息或免费下载LabVIEW用户评估版及相关技术资源
·请访问:www.ni.com/china
更多报名方式:
电话:010-68416993
如想参加本场免费研讨会,请事先报名,否则NI将无法为您保留资料和座位。
 
 
推荐有礼
即日起只要您推荐同事或朋友参加NI的研讨会,
您将获得丰厚回馈!活动细则:
1.被推荐者需满足以下条件:
(1) 首次与NI联系
(2) 测控领域工程师
(3) 参加研讨会,您和被推荐者需要在会上完整填写活动咨询表
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  2. 回馈方法: 推荐同事参加研讨会,您将获得NI精美礼品一份(礼品在一月内邮寄出)
  ·NI客户号:是您在NI的特殊识别号,通过您的NI客户号,您可以更加便捷地参与NI的市场和销售活动。
·了解NI更多活动,请访问ni.com/china/events