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◎ 相关新闻列表
·NIWeek 2010 射频与无线通信技术的设计与测试 (2010/8/3 13:45:16)
射频与无线通信行业峰会聘请了从事于该领域的专家学者,您可以与之共同探讨射频仪器的较新进展,射频工程师所使用的设计工具及无线通信设备,并且参加由顶尖行业专家奉献的技术会议。
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·NIWeek 2010 演讲人简介——Dr. Michio Kaku (2010/8/3 13:44:23)
Michio Kaku博士 理论物理学家 纽约市立学院 物理学家,教授,作家Michio Kaku博士,拥有在纽约市立学院和纽约市立大学研究生...
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·NIWeek 2010 演讲人简介——Ray Almgren (2010/8/3 13:42:43)
Ray Almgren NI 软件、教育与培训副总裁 NI Ray Almgren和来自世界各地的学生团队将展示通过使用图形化系统设计,来解决...
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·NIWeek 2010 演讲人简介——John Pasquarette (2010/8/3 13:41:13)
John Pasquarette NI 软件产品营销副总裁 John Pasquarette和NI研发工程师将共同探讨那些支持着较新应用,并改变着工程师和科学家们设计,建造和测试复杂系统的间断产品与技术。...
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·NIWeek 2010 演讲人简介——Jeff Kodosky (2010/8/3 13:40:01)
Jeff KodoskyNI 创始人、商务与技术研究员 Jeff Kodosky,是30多项关于LabVIEW技术的共同发明者,被誉为“Lab...
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·NIWeek 2010 演讲人简介——John Graff (2010/8/3 13:38:15)
John Graff 营销副总裁 NI John Graff和NI研发工程师将共同推出的较新产品和技术,并为您讲解为何现在比以往任何时候都适合...
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·NIWeek 2010 演讲人简介——Dr. James Truchard (2010/8/3 13:31:16)
James Truchard博士 NI 总裁、CEO、创始人 James Truchard博士将探讨关于定时和同步,流媒体数字信号处理器(DSP)的设计和软件定义的无线电设备的较新技术,并以此来优化世界各地的图形化系统设计。...
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·8月问世 日置HIOKI首款阻抗分析仪-IM3570 (2010/7/21 10:51:29)
概要阻抗分析仪IM3570是实现了测量频率4Hz~5MHz的日置首款高精度•高速阻抗分析仪。根据客户的用途,可以与原来本公司的LCR产品一样选择将测量值用数值显示模式来显示频率/电平特性的测量图表。 定位IM3570是类似本公司以往产品LCR测试仪3532-50,并较其功能更为强大...
概要阻抗分析仪IM3570是实现了测量频率4Hz~5MHz的日置首款高精度•高速阻抗分析仪。根据客户的用途,可以与原来本公司的LCR产品一样选择将测量值用数值显示模式来显示频率/电平特性的测量图表。 定位IM3570是类似本公司以往产品LCR测试仪3532-50,并较其功能更为强大...
·日置即将推出较新IM3570阻抗分析仪----LCR与电阻计的完美结合 (2010/6/18 11:08:07)
一台仪器就可以实现不同测量条件的高速检测要求 即将发售的阻抗分析仪IM3570是测量频率4Hz~5MHz,测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二为一的仪器。因为对应不同测量条件都能高速连续测量,所以在需要使用众多仪器检查的生产线上,仅IM3570一台便可实现。 压电元件的共振特性的测量...
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·NI宣布已推出100多款C系列模块用于各种自定义应用 (2010/5/25 23:02:49)
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)近日宣布已新增100多种C系列插入式模块,其中50多种来自NI公司,另外50种来自第三方公司,此外还包括各种机箱产品。如此多的配置选择帮助工程师们解决各种测量与嵌入式控制需求。工程师和科学家们可将NI C系列模块插入任何C系...
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