NI推出业内较高性能PXI数字化仪

与Tektronix合作开发的12.5GS/s数字化仪，提供3GHz和5GHz两种带宽选择，进一步扩展数字化仪在自动化测试应用中的性能

美国国家仪器公司（National Instruments，简称NI）今天推出业内带宽较高的PXI数字化仪，扩展了 PXI数字化仪产品的性能。NI与全球示波器领导者泰克公司共同研发，成功实现了具有5 GHz带宽和12.5 GS/s采样率的 NI PXIe-5186以及3 GHz带宽和12.5 GS/s采样率的NI PXIe-5185两款全新数字化仪。作为NI基于PXI平台的软硬件平台的组成部分，这两款数字化仪为自动化测试应用提供了更优异的性能。

 “全新PXI数字化仪结合了泰克在高速数字化仪前端设计方面的优势和NI在软件定义的模块化仪器领域的优势，我们很高兴能够与泰克共同开发新产品，”NI CEO James Truchard博士说，“这些数字化仪进一步体现了摩尔定律对测试应用的影响，使PXI模块化仪器在保持体积优势的同时不断达到更高性能。”

全新数字化仪中的泰克专利ASIC芯片是进行高速信号采集的基础，具有低噪声、高线性度等特点，并且基于高可靠性的IBM 7HP SiGe技术实现。泰克的Enabling Technology技术保证了极佳的信号保真度，并可实现超低抖动特性。极低的500飞秒(RMS)抖动确保了5GHz时的有效位数（ENOB）可达5.5比特。NI专利技术为全新数字化仪提供高数据吞吐量，可实现更快的测试速度，利用领先的多模块定时与同步技术可进一步创建高通道数的集成测试系统。该数字化仪适用于3U PXI Express平台，能够以700 MB/s的速率进行高速数据传输，并且多个模块间的通道同步精度可达160ps。这些功能使全新数字化仪成为自动化生产测试、半导体ATE和高能物理测量系统等应用的理想之选。

 “作为全球示波器的领先厂商，泰克公司致力于提供满足各类用户需求的技术，包括针对使用模块化仪器进行自动化生产测试的用户，”泰克公司首席技术官Kevin Ilcisin说，“这一产品让客户同时享受到泰克公司行业领先的信号采集技术以及仪器自动化行业领导者、PXI标准制定厂商NI公司卓越的仪器控制技术的优势。”

全新数字化仪可结合NI LabVIEW图形化系统设计软件，进行仪器控制与自动化应用；同时也可利用NI LabWindows™/CVI ANSI C软件开发环境或Microsoft Visual Studio .NET开发工具，使用各种语言进行编程。工程师可以使用NI-SCOPE仪器驱动以及全新LabVIEW抖动分析工具包加速开发。LabVIEW抖动分析工具包提供了丰富的函数库，可用于抖动、眼图和相位噪声等测量。读者可访问 www.ni.com/digitizers/zhs，了解关于全新数字化仪和LabVIEW抖动分析工具包的更多信息。

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