数字控制DC／DC变换器中ADC的设计

    DC／DC变换器有两种控制方式：模拟控制方式和数字控制方式。传统的DC／DC变换器一般采用模拟控制方式，它具有体积小，功耗低等优点，但易受噪声影响。而数字控制的DC／DC变换器对工艺参数和环境不敏感、控制算法可通过编程实现、易于集成，且能大大缩短产品的开发周期。正是由于数字控制方式的这些优点，数字DC／DC变换器得到人们的广泛关注。

1 DC／DC变换器结构
    数字控制器主要由模数转换器(ADC)、数字补偿器(Digital Compensator)和数字脉冲宽度调制器(DPWM)组成。一种常用的数字控制器如图1所示。主电路输出电压与基准电压经ADC进行比较并转换为相应的数字误差信号，数字补偿器则根据误差进行补偿得到给定数字信号。经DPWM转换成时间信号，控制主电路开关通断。

2 延迟线ADC
    标准CMOS工艺下一个逻辑门延迟td与电源电压VDD叻有这样一个关系
   
    其中，K是一个与器件和工艺有关的常数，Vth是MOS器件的阈值电压。当VDD大于Vth时，td可看作与VDD成反比。
    延迟线ADC由延迟链、寄存器组和译码电路组成，结构如图2所示。一串延迟单元组成延迟链。一种可行的延迟单元的结构如图3所示。它由一个反相器与一个或非门级联得到。每个延迟单元都有一个输入端，一个复位端和一个输出端。

    给定一个开始信号AD_Stan，经一定时间间隔后产生一个采样脉冲信号sample，作为D触发器的控制信号。在采样信号有效时对D触发器的输入信号进行锁存，将D触发器的输出信号送至译码电路得到较后的误差信号。图4是延迟线ADC的时序图，假设图2中n=8。在采样信号有效时，AD_Start信号正好传到第5个延迟单元，于是q1～q5输出为1，q6～q8输出为0。采样电压越大，延迟时间td越小，信号传播得越快，输出的温度计码中的1的个数越多。译码电路再将温度计码转换为所需要的二进制码。延迟线ADC即通过输入电源对延迟链供电，根据延迟链延迟时间的大小来确定输入的大小。

3 差分延迟线ADC
3．1 差分延迟线ADC结构分析
    延迟线ADC结构简单，功耗小，但易受工艺和温度环境影响，且采样信号需外部产生，增加了电路的复杂性，而且采样信号的延迟大小会影响ADC量化电平的大小，使得系统输出不易稳定。
    差分延迟线结构是对延迟线结构的一种改进，结构图如图5所示。差分延迟线ADC由两条全同的延迟链组成，主延迟链(Primary delay-line)和参考延迟链(Reference delay-line)。参考延迟链可经主延迟链复制而来。两条差分延迟链共用一个启动信号AD_Start，使两条延迟链的工作状态完全相同。差分延迟链的两个输入分别是采样电压Vsense和基准。

    电压Vref，Vsense须小于Vref，根据电压越大延迟越小的原理，参考延迟链先于主延迟链传播完，将与主延迟链相连的D触发器打开，对主延迟链上的Vsense进行采样。这样就实现了将采样电压与基准电压作比较，再通过译码电路得到系统需要的数字误差信号。
    差分延迟线ADC的控制信号在内部产生，进一步简化了电路结构。采用差分形式输入，使得采样电压和基准电压同时受到温度和工艺偏差的影响，减少主延迟链的延时偏差。
3．2 差分延迟线ADC建模
    设延迟链中的延迟单元个数为N，延迟时间td是VDD的函数：td=td(VDD)，则有
   
    即转换时间Tc是分辨率Vq，延迟时间td以及延迟函数的斜率的函数。
    图6为0．13μm CMOS工艺下单个延迟单元与VDD的关系曲线。

4 设计方法和仿真结果
    延迟单元对精度要求较高，采用全定制设计，而译码电路对精度要求较低，采用基于标准库单元设计，整体电路使用Hsim进行数模混合仿真。

    设计时，基准电压为1．5V，工作频率是1．5MHz，输入电压从0．7～1．5V线性上升，输出为译码后的结果，即6位数字信号e。Vsense每增加或减少12．5mV，e增加或减少“1”，但e的较大值是63。图7为0．13μm CMOS工艺下差分延迟线ADC的输入输出曲线，可以看出，差分延迟线ADC的输出没有明显偏移，零输入对应零输出，线性度良好。

5 结束语
    本文在分析了应用于数字控制DC／DC变换器中的ADC的特点的基础上，研究了差分延迟线ADC的建模和实现。该差分延迟线ADC电路结构简单，不需要外部电路产生控制信号，可抵消部分工艺偏差。该ADC转换速率很快，功耗低，适合应用在高频数字DC／DC变换器中。

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