是德科技与 Cascade Microtech公司庆祝 25 年携手合作，在解决客户的半导体研发挑战方面取得辉煌成就

2016年06月07日14:38:27 本网站我要评论(2)字号：T | T | T

两家公司帮助客户达成并超越产品上市时间目标

新闻要点：

Ÿ 紧密协作，结合超过百年的晶圆上测试经验，带来器件表征和晶圆上测试的不断创新

Ÿ 创新有助于加速客户的产品上市

2016 年6月7日，北京――是德科技公司（NYSE：KEYS）和 Cascade Microtech公司（NASDAQ：CSCD）近日共同庆祝 25 年精诚合作，帮助客户应对较棘手的半导体研发挑战的历史。这一合作带来了重大的晶圆上设计和测试创新，帮助客户加速产品上市。

是德科技源自 1939 年由 Bill Hewlett 和 Dave Packard 创立的原惠普公司。CascadeMicrotech公司由 Eric Strid和 Reed Gleason 于 1983 年创立。1990 年，两家公司开始联手打造产品路线图，实现了重大技术突破。凭借 100 多年的半导体测试经验，两家公司的联合创新也影响到了客户进行晶圆上研究和设计的方式。

Cascade Microtech公司总裁兼首席执行官 Michael Burger 表示，“我们与是德科技长达数十年的合作，使得我们在解决客户难题方面具有独特的优势。通过在开发周期的早期合作，我们能够为客户提供真正创新的测试解决方案，提高测量精度，交付值得信赖的结果。”

Keysight-Cascade Microtech客户解决方案具有以下特点：

Ÿ 1991：HP/Keysight 4155 半导体参数分析仪帮助客户进行低噪声和漏电流测量。客户反馈表明，需要将这些测量扩展到探针和晶圆基板。这促使 Cascade Microtech公司开发了MicroChamber^®技术和防护卡盘，以便在探头和卡盘端子上进行 10 fA以下的电流测量。客户由此第一次能够看到晶体管的真实漏电流。

Ÿ 1999：8510XF 网络分析仪系统支持首款宽带 110 GHz 同轴解决方案，为客户提供较佳的整体性能，充分满足毫米波应用中的设计和测试挑战。同轴宽带解决方案的引入，可以用一个宽带单次扫描解决方案完成器件测量任务，而过去同样的任务需要使用三套仪器和探头，还需要进行校准。新的解决方案不仅节省了客户的时间和金钱，同时还提供更全面、更准确的测量，测量范围延伸至探针。

Ÿ 2015：完整的晶圆级测量解决方案用于快速、准确的半导体晶圆上测量，通过有保障的系统配置、安装和支持，能节省测量时间，降低客户风险。客户得到保证――不会漏掉任何元器件。这个系统事先经过验证，能提供可靠的探针性能，确保更快获得第一手数据。

是德科技副总裁兼总经理 Gregg Peters表示，“在过去的 25 年中，客户能成功进行器件表征和晶圆上测量，我们两家公司团队合作的作用不可或缺。今天，我们既要庆祝过去的成功，也期待着在未来 25 年继续合作，帮助我们的客户更快将产品推向市场。”

关于 Cascade Microtech公司

Cascade Microtech公司（NASDAQ：CSCD）是包括集成电路（IC）、光学器件及其他微型器件等在内的先进半导体器件的精密电气测量及测试领域中的全球领导者。Cascade Microtech可对包括晶圆、集成电路（IC）、IC 封装、电路板和模块、MEMS、3D TSV、LED 器件等在内的先进半导体器件提供有价值的电气数据，帮助科技型企业和科研机构评测微型器件。CascadeMicrotech较先进的实验室和量产用测试产品包括探头台、探头、探头卡、先进温控子系统与集成系统，提供卓越的测量精度和性能，旨在确保生成高速、高密度的半导体芯片。更多信息，请访问：www.cascademicrotech.com。

关于是德科技

是德科技（NYSE：KEYS）是全球领先的电子测量公司，通过在无线、模块化和软件解决方案等领域的不断创新，为您提供全新的测量体验。是德科技提供电子测量仪器、系统以及软件和服务，广泛应用于电子设备的设计、研发、制造、安装、部署和运营。2015 财年，是德科技收入达 29 亿美元。如欲了解是德科技的详细信息，请访问www.keysight.com。

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