NI举办第十三届“PXI 技术和应用论坛”，引领PXI发展新潮流

发布多项业界首创PXI新产品，打造更智能的系统测试

新闻发布 - 2016年6月16日–NI(美国国家仪器公司，National  Instruments，简称NI)作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球较严峻工程挑战的供应商，近日在上海举办了第十三届“PXI 技术和应用论坛”（PXI Technology & Application Conference，即 PXI TAC）。本次PXI TAC的主题为“更智能的系统-更智能的系统测试”，吸引了600余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表，共同分享较新、较全、较前沿的测试领域技术干货，探讨PXI技术的发展趋势和应用案例。

在今年的PXI TAC上，NI发布了7位半数字万用表(DMM)、802.11ax无线测试解决方案、用于毫米波(mmWave)的软件无线电(SDR)和模块化源测量单元(SMU)等多款业界首创的PXI新产品，再度引领PXI技术发展的新潮流，致力于帮助用户打造更加智能的系统测试解决方案。同时，15家国内外知名PXI供应商和系统集成商亮相本次PXI TAC，展示了他们基于PXI技术开发的各项产品和技术应用。

自NI推出PXI技术以来，PXI平台现已成为了自动化测试和控制的主流平台。和传统仪器相比，PXI平台具有较高的测量能力，低延迟和高带宽，软件灵活定义，集成定时和同步，高处理性能，尺寸、重量、功耗小，平台仪器齐全等优点；并且PXI平台可以作为整个系统的中心，连接已有的其他仪器，如LXI，VXI，USB，GPIB等，在较大可能减少系统瓶颈的情况下，保持已有设备投资。因此，越来越多的客户使用PXI平台的仪器开展自动化测试。据Frost & Sullivan预测，到2021年，PXI平台作为整个仪器行业的主力增长力量，将会一直以超过15%的增长率持续增长。

图：NI全球市场高级副总裁Ajit Gokhale

NI始终致力于PXI技术的不断进步，并在这一领域不断投入和持续创新。随着以物联网为代表的智能系统的兴起，智能设备呈爆炸式增长态势，对测试和测量任务提出更加严峻的挑战。“在物联网的大背景下，智能设不断涌现，形成了更智能的系统，这就必然需要更加智能的测试系统。凭借开放灵活的软件、模块化的硬件和完整的生态系统，PXI平台获得了自动化测控领域工程师的一致认可，”NI全球市场高级副总裁Ajit Gokhale表示，“作为PXI平台的发明者和市场领导者， NI多年来坚持将PXI TAC打造成开放、自由的技术交流平台。我们期待与各界同仁携手，促成PXI平台的持续创新，应对测试测量任务越来越严峻的挑战。”

关于NI

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