NI发布业界较高精度的PXI源测量单元 全新的低电流SMU提供了高达10 fA的电流灵敏度

关键字：应用 LabVIEW 半导体 汽车 通信 数字 医疗 传感器 美国国家仪器 可靠性 

新闻发布– 2016年7月11日–NI（美国国家仪器，National Instruments, 简称NI） 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球较严峻的工程挑战的供应商，近日宣布推出NI PXIe-4135源测量单元(SMU)，其测量灵敏度达10 fA，输出电压高达200V。工程师可以使用NI PXIe-4135 SMU来测量低电流信号，并利用NI PXI SMU的高通道密度、高速的测试吞吐率和灵活性来实现晶圆级参数测试、材料研究以及分析低电流传感器和集成电路的特性等各种应用。

 

“我们的顺序参数测试需要采集数百万个数据点，电流泄露通常在pA级。”IMEC研究人员Bart De Wachter博士表示， “在受益于PXI平台提供的高速度和LabVIEW的系统编程灵活性的同时，全新的NI PXI SMU可帮助我们精确地测量低电流信号。”

 

模块化NI PXI SMU可帮助工程师来构建紧凑型并行高通道数系统，在单个PXI机箱中提供了高达68个SMU通道，而且可扩展至数百个通道来满足晶圆级可靠性和并行测试需求。此外，用户还可利用高速通信总线、确定性硬件序列生成、以及使用数字控制回路技术对任意待测设备自定义调节SMU响应，从而提高测试吞吐量。 工程师还可以通过软件控制SMU响应，避免了长时间等待SMU稳定，并可借助NI PXI SMU的灵活性来较小化过冲和振荡，即使是在带有高电容性的负载的情况下也是如此。

 

“半导体器件复杂性的增加要求我们重新思考传统的研究、特性分析和晶片可靠性测量方法，而这一直是我们投资PXI SMU的关键动力，”NI自动化测试总监Luke Schreier表示， “NI SMU降低了测量时间，提高了通道密度，而且现在更提供了更好的测量质量和高达10 fA的灵敏度。”

 

NI PXI SMU不仅提供了台式SMU的易用性，其交互式软件前面板也可用于进行基本的测量和调试自动化应用。  驱动程序包含了帮助文件、文档描述和可立即运行的范例程序，可辅助测试代码开发，并包含了一个编程接口，可支持C、Microsoft .NET和LabVIEW系统设计软件等各种开发环境。 工程师还可结合NI TestStand测试管理软件使用NI PXI SMU，简化实验室或生产车间的测试系统开发和部署。

阅读本篇技术白皮书，了解如何使用NI SMU降低测试成本以及构建更智能的测试系统，或点击

了解如何通过PXI源测量单元解决各种应用需求。

关于NI

从1976年开始，美国国家仪器 (www.ni.com)  一直致力于提供各种强大的基于平台的系统来帮助工程师和科学家提高效率和加速创新，以解决全球面临的重大工程挑战。从医疗、汽车、消费电子产品到粒子物理等各行各业的客户正在使用NI的集成软硬件平台来改善我们生活的环境。

NI中国自1998年成立以来，不断致力于以跨国公司的实力为本地用户提供创新、高效的工具和解决方案。辐射全国的销售、技术人员及系统联盟商网络则以为本地市场提供优质服务为己任，倾力满足客户要求。NI中国在线商城的推出进一步完善了NI的服务体系，旨在为用户提供更方便快捷的购买体验，即刻浏览：china.ni.com/howtobuy