NI发布业界首台基于PXI平台的RF矢量网络分析仪（VNA）

6 GHz矢量网络分析仪——用于高精度自动化射频测试

NI近日推出了NI PXIe-5630 6 GHz双端口矢量网络分析仪（VNA），这是自动化测试行业首台基于PXI总线的矢量网络分析仪。借助全新的矢量网络分析仪，可对前向参数和反向参数(T/R)进行全面的矢量分析。此外，该矢量网络分析仪还提供精密自动校准功能，并且基于灵活的软件定义架构，非常适用于自动化设计验证和生产测试。该矢量网络分析仪基于PXI模块化架构，只需占据两个PXI槽位，使测试工程师可以在有限空间中将矢量网络分析整合进测试系统，而无需增加额外成本或使用体积较大的传统台式仪器。

“6 GHz 矢量网络分析仪表明了我们在提供射频解决方案方面的持续投入，致力于帮助工程师在提高测试精度和吞吐量的同时降低成本、系统体积和复杂性，” NI 研发部高级副总裁Phil Hester说。“对于成功地将VNA添加到我们业已强大的PXI模块化仪器的射频系列产品中，我们感到很骄傲。”

NI PXIe-5630针对自动化测试应用进行了设计优化，并提供一些成熟的功能，包括：自动精密校准、双端口均可进行完整矢量分析、参考面延展附件、以及可用于并行测试的灵活的LabVIEW API。NI PXIe-5630还具有优良的性能指标，包括10 MHz到6 GHz的频率范围、超过110 dB的动态范围、以及低于400 微秒/频点的扫描速度（可连续扫描3201个频点）。此外，由于基于模块化的PXI平台，工程师可将多达八个NI PXIe-5630模块整合在一个PXI机箱中，并以真实并行的方式进行多点射频测试。

工程师无需编程便可用附带的全功能软面板交互式地控制NI PXIe-5630，或在NI LabVIEW软件和NI LabWindows™/CVI ANSI C开发环境中使用直观的API通过编程进行控制。两种API都针对多核处理进行了优化，以完成多个RF组件的并行测试。相比通过开关切换进行串行测试，这种并行测试方式具有明显的测试吞吐量优势。

NI PXIe-5630还进一步扩展了用于自动化测试的PXI模块化仪器系列产品。基于工业标准的PXI规范，该款矢量网络分析仪可与包括NI在内的70多家供应商的1500多种PXI仪器集成，满足几乎任何测试应用需求。

全新矢量网络分析仪将于2010年10月上市。了解关于NI PXIe-5630的更多信息，请访问www.ni.com/vna/zhs 。

点击此处，观看《网络分析仪理论与操作简介》视频演示。

关于NI

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